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心脏装置:CF型漏电流电容器选择
CF型心脏设备将患者漏电流控制在10 µA以下,电容项决定了漏电流上限:1 nF电容在250 V和50 Hz下消耗78.5 µA电流。涵盖了三条漏电流路径、绝缘电阻后的填充数据、127 pF电容、灌封层以及0.6 µA的结果。
心脏装置:CF型漏电流电容器选择
工程答案
对于 250 V / 50 Hz 的路径,将患者节点部分的电容上限设为 127 pF,因为该值本身就会消耗 10 µA 的电流。选择 25 °C 时阻抗高于 1,000 GΩ、85 °C 时阻抗高于 100 GΩ 的 I 类 N4700 填充材料,然后在真空条件下进行封装。经测量,心脏近距离直线加速器装置的患者漏电流为 0.6 µA,比 CF 型限值低 16 倍。
- 在选择部件之前,先将泄漏分解为电阻性泄漏、电容性泄漏和表面泄漏。
- 将最坏情况下的环境温度设定为 85 °C,因为红外线强度在 25 °C 时会下降一个数量级。
- 对于 250 V / 50 Hz 的路径,将患者节点电容保持在 127 pF 以下。
- 用一个与患者参考号相连的环来保护每一条患者追踪记录
- 反接电源,在市电电压的110%下进行测试。
抽象
CF型设备与心脏直接接触,因此正常使用情况下患者漏电流限值为10 µA,单次故障情况下限值为50 µA。该电流通过三条路径传输:填充材料的绝缘电阻、对地电容以及潮湿电路板的表面电阻。本文给出了这三个计算公式、IR后填充材料的对比、布局和灌封步骤,以及一台心脏内放射治疗装置测得的0.6 µA漏电流结果。
1. 引言
IEC 60601-1 将医疗设备分为三类防电击设备。B 类设备不与心脏接触,例如治疗床或激光器。BF 类设备与体表接触,例如超声探头。
CF 型涵盖可能接触心脏的应用部件。例如,心脏起搏器、心内消融导管以及处于心脏近场模式的直线加速器。患者正常状态下的漏电流限值为 10 µA。
这个数值比BF型断路器(允许100微安)严格两个数量级,比工业级断路器(3.5毫安)严格三个数量级。几微安的电流流过心脏即可引发心室颤动。
本文涵盖了三种泄漏路径、决定这些路径的填充属性、布局和灌封步骤,以及一个实测案例。最后,以两台放射治疗设备为例进行了说明。
2. 核心机制
2.1 填料的阻力泄漏
每种介质都会允许微小的直流电流通过其绝缘电阻。绝缘电阻越大,该电流越小。
I_R = V / IR
其中 I_R 为电阻漏电流(单位:nA),V 为施加的直流电压(单位:V),IR 为绝缘电阻(单位:GΩ)。当 250 V 电压下,100 GΩ 电阻两端的电流为 2.5 nA,可忽略不计。当 5 kV 电压下,1 GΩ 电阻两端的电流达到 5 µA,消耗了 CF 型绝缘裕量的一半。
IR 值并非固定不变。在 25 °C 至 85 °C 之间,IR 值会下降约一个数量级,并且 II 类填充材料在直流偏置下损失更大。在 85 °C 时,应将器件阻抗保持在 10 GΩ 以上。
2.2 电容泄漏到患者体内
任何电容中都会产生随时间变化的电压,该电压项驱动交流电流流过电容。该项随频率增加而增大,因此在开关节点上起主导作用。
I_C = 2π · f · C · V
其中 I_C 为电容漏电流(单位:安培),f 为频率(单位:赫兹),C 为电容值(单位:法拉),V 为均方根电压(单位:伏特)。在 250 伏和 50 赫兹的条件下,一个 1 纳法的元件会消耗 78.5 微安的电流,这本身就超过了 10 微安的限制。
重新排列后,10 µA 的限制将 250 V / 50 Hz 的节点限制在 127 pF。1 nF 的元件在 1 kHz 时消耗 1.57 mA,同样的元件在 1 MHz 时消耗 1.57 A。频率,而不是电压,决定了患者节点的上限。
2.3 潮湿板的表面渗漏
电流也会沿着电路板和元件表面蔓延。表面电阻决定了这条路径的大小。
I_S = V / R_s
其中,I_S 为表面漏电流(单位:nA),V 为表面电压(单位:V),R_s 为表面电阻(单位:GΩ)。助焊剂残留、手印和冷凝都会使 R_s 值比干净干燥的电路板降低 10 到 100 倍。
这三项相加是正交的,因为它们具有不同的相位角。
I_total = √(I_R² + I_C² + I_S²)
其中,I_total 为患者漏电流(单位:nA),I_R 为电阻项,I_C 为电容项,I_S 为表面项。在 50 Hz 时,前两项占主导地位。在 80% 相对湿度下或蒸汽清洁后,表面项起主导作用。
2.4 哪种填料承载荷载
绝缘电阻、损耗和电压特性均取决于填充等级。I 级填充材料具有较高的绝缘电阻和平坦的电压曲线。II 级填充材料则以牺牲部分绝缘电阻和电压曲线为代价,在更小的体积内实现了更高的绝缘电阻和电压特性。
| 填充类 | 25℃下的红外光谱 | 85℃下的红外光谱 | 1 MHz 下的 tan δ | 电压系数 |
|---|---|---|---|---|
| 一级(N4700) | 100–1,000 GΩ | 大于 10 GΩ | 低于0.1% | 低于 +1% |
| 一级(非营利组织) | 500–2,000 GΩ | 大于 50 GΩ | 低于0.05% | 低于±0.5% |
| II 类 (X7R) | 10–100 GΩ | 1–10 GΩ | 1-3% | −50% |
| II 类 (Y5V) | 1–10 GΩ | 0.1–1 GΩ | 5-10% | −80% |
| 薄膜(PP) | 100–500 GΩ | 大于 50 GΩ | 低于0.05% | 低于1% |
| 电解 | 0.1–1 GΩ | 10–100 MΩ | 5-15% | 高 |
X7R 器件在 1V 电压下阻抗为 50 GΩ,在额定电压下阻抗降至 15 至 35 GΩ,温度在 25°C 至 85°C 之间也会如此。如果设计人员仅根据数据手册中的阻抗值进行尺寸设计,则最终可能会达到合规性的临界值。
图 1 — 在 250 V 和 50 Hz 时,10 µA CF 型限制将患者节点限制在 127 pF,而 1 nF 消耗 78.5 µA。
3. 工程痛点
痛点1:患者链中的二级部件
一台显示器在隔离路径中使用了 X7R 器件。其隔离阻抗 (IR) 从 25°C 时的 30 GΩ 降至 85°C 时的 4 GΩ。此时,5 kV 节点漏电流为 1.25 µA,加上偏置漂移,总漏电流超过 10 µA。更换为相同封装的 I 类 N4700 器件后,问题得以解决。
痛点2:两侧之间的爬行距离较短
电路板初级侧与患者侧之间的缝隙为 6 毫米。5 kV 电压下的加强绝缘需要的缝隙远大于此。测试发现,患者电流沿表面泄漏 22 µA。将缝隙加长至 40 毫米并对缝隙进行灌封后,泄漏电流降至 1 µA 以下。
痛点3:细间距部件下方的助焊剂残留
患者侧部件下方的装配助焊剂留下了 100 MΩ 的表面通路。在 250 V 电压下,该通路在干燥电路板上承载 2.5 µA 电流,在 80% 相对湿度下承载 25 µA 电流。回流焊后的清洗步骤去除了该通路,湿度测试随后通过。
痛点 4:反馈回路中的电解元件
DC-DC反馈回路中的一个铝制元件在25℃时漏电流为0.5 µA,在85℃时漏电流为40 µA。其兆欧级绝缘电阻无法满足CF(反馈回路)的要求。应将其更换为患者侧的I类陶瓷元件或薄膜元件。
4. 设计步骤
策略一:先将三个术语分开。
在选择元件之前,先计算最差节点的 I_R、I_C 和 I_S 值。这种划分可以显示哪个项起作用。对于 50 Hz 的患者节点,通常是容性项起作用,因此较小的元件值可以解决问题。
策略二:根据频率评估价值。
电容值应根据公式 I_C = 2π · f · C · V 设定,而非根据电路增益设定。250 V / 50 Hz 节点的电容为 127 pF。5 kV / 1 kHz 节点的电容为 0.3 pF,这需要采用不同的电路拓扑结构,并串联限流电阻。
策略 3:在 85 °C 下保持 IR 值高于 10 GΩ
将环境目标温度设定为 85 °C,因为被测部件的工作温度为 35 至 40 °C,而机柜的工作温度更高。使用 I 级 N4700 填充材料可使内部电阻保持在 10 GΩ 以上,漂移范围为 -4700 ppm/°C ±1000 ppm/°C,电压系数低于 +1%。
策略四:真空罐装并包裹尸体
真空环氧树脂灌封可消除内部气隙并阻断离子沿陶瓷-玻璃连接处的传输,从而将表面漏电降低 10 到 100 倍。25 µm 厚的聚酰亚胺包覆层可将表面电阻提高到 10¹⁴ Ω/sq 以上,并符合 ISO 10993-5 标准。
策略五:保护患者痕迹
在每个患者电极导线上连接一个保护装置,该保护装置应连接到患者参考电极,而不是地线。保持导线长度较短,因为过长的高阻抗导线会同时拾取场电流和表面电流。使用带锁的医用连接器,以防止接错。
策略六:增加第二层保温层
双重绝缘提供了单故障测试所需的冗余度。第二层陶瓷层或覆盖在第一层上的模压硅胶护套,可在第一层失效时保持通路畅通。增强型绝缘需要两层绝缘才能达到测试要求。
策略 7:测试标准测试方法
施加110%的市电电压,引入一个故障点,并读取测量设备中每条患者路径的电压。然后反接火线和零线,重复上述步骤。记录最差情况,而非平均值。
| 泄漏路径 | 正常情况 | 单故障 |
|---|---|---|
| 漏电 | 低于 5 mA | 低于 10 mA |
| 外壳泄漏 | 低于 100 µA | 低于 500 µA |
| 患者辅助电流 | 低于 10 µA | 低于 50 µA |
| 病人漏液 | 低于 10 µA | 低于 50 µA |
| 组件参数 | 典型值 | 测试条件 |
|---|---|---|
| 额定电压(HVCT8G系列) | 10 kV DC | 高压1.5倍,持续60秒 |
| 电容量 | 4700 pF ±20% (472M) | 1 MHz,1 V rms |
| 1 MHz 下的 ESR | 低于 50 mΩ | - |
| 回路电感(E40弦) | 低于 8 nH | 端子间距 40 毫米 |
| 绝缘电阻 | 在 500 V 直流电压下,电阻大于 10 GΩ | 25℃,60%相对湿度 |
| 温度范围 | −40 °C 至 +125 °C | IEC 60068-2系列 |
| 脉冲dv/dt能力 | 高于 50 kV/µs | 额定电压 |
5. CF型患者电路用高压电容器
患者节点的组件需要具备三个条件:高温下具有高红外吸收率、偏置电压下数值稳定,以及表面洁净且能保持洁净。HVC 在东莞拥有一座占地 6,000 平方米的自有工厂,生产符合这三个条件的组件,电压范围从 1 kV 到 150 kV。
这里需要考虑的六个参数
- 在 25 °C 时,IR 值高于 1,000 GΩ。N4700 超高 IR 等级在 85 °C 时仍能保持 100 GΩ 以上的阻抗,这比 10 µA 的限制留出了 10 到 20 倍的裕量。
- tan δ 低于 0.05%。低损耗使机身保持凉爽,因此 IR 保持较高水平,并且当设备连续运行数小时时,泄漏不会发生漂移。
- 电压系数低于 +1%。该值和 IR 在整个额定电压范围内保持平坦,因此额定电压为 1 V 的器件在 15 kV 时仍然有效。
- 真空灌封和聚酰亚胺包裹。灌封的本体阻止表面离子传输,25 µm 的包裹层将表面电阻提高到 10¹⁴ Ω/sq 以上。
- 小额NPO零件。 瓷片电容器 NPO 填充盖的电容范围为 1 pF 至 470 pF,电压范围为 5 kV 至 15 kV,适用于监测参考节点。
- 同一屏障的协调部件。 HVCT8G 门把手电容器 分隔符 HVRGHP采样电阻器 对于感觉通路而言,以及 快速恢复二极管 整流器可以作为一个整体报价。
交付和支持
标准件发货周期为 4-8 周,封装好的医疗组件发货周期为 6-10 周,而进口品牌通常需要 20-30 周。电容值范围为 1 pF 至 1 nF,耐压范围为 5 kV 至 25 kV,精度等级为 ±1% 和 ±2%,最低起订量为一件。
发送节点电压、工作频率、患者路径值和环境目标值。HVC 将在五个工作日内返回一份匹配的表格,其中包含零件编号、25°C 和 85°C 下的红外光谱数据以及 1,000 小时的测试数据。该团队还运行 交叉参照 与 Murata GRM 和 TDK C0G 医疗级产品竞争,并引用 厚膜电阻 感官路径的分隔器。
6. 常见问题
问题1:为什么1 nF会突破CF型电容的限制?
因为电容漏电流随频率变化,而 1 nF 对于患者节点来说是一个很大的值。在 250 V 和 50 Hz 下,一个 1 nF 的元件会消耗 78.5 µA 的电流,是 10 µA 限值的八倍。同样的限值将该节点的电容值限制在 127 pF。电容值应根据公式 I_C = 2π · f · C · V 确定。
Q2:在患者节点上应该使用哪种填充方法?
一级填充:5 kV 以上采用 N4700 填充,或 470 pF 以下采用 NPO 填充。一级填充器件在 85 °C 时阻抗 (IR) 高于 10 GΩ,电压系数低于 +1%,损耗角正切 (tan δ) 低于 0.1%。X7R 器件在偏置电压下会损失一半的阻抗值和大部分阻抗,这会使器件的顺应性受到威胁。
Q3:盆栽有多大帮助?
它能将表面泄漏减少 10 到 100 倍。填充物可阻断离子沿陶瓷-玻璃接缝的传输,并防止冷凝水在两个节点间形成桥接。使用 100 Pa 以下的真空脱气工艺去除空隙,并在 150 °C 以下固化,以避免陶瓷体受到热损伤。
Q4:如何在 5 kV 电压下保持 10 µA 的电流?
串联回路的电流必须尽可能小,因此电阻项必须保持很小。在 5 kV 电压下,1 GΩ 的元件会泄漏 5 µA 的电流,这会消耗一半的裕量。在工作温度下,电阻 IR 应保持在 100 GΩ 以上,并串联一个限流电阻,以确保故障电流不超过 10 µA。
Q5:哪些灭菌方法适合这些部件?
环氧乙烷适用于所有 N4700 超高红外部件,标准循环温度为 55 °C,相对湿度为 60%。伽马射线辐照剂量可达 50 kGy。蒸汽高压釜处理适用于带有 -S 后缀的部件,温度为 134 °C,处理时间为 18 分钟,经 200 次循环验证。
Q6:我应该多久重新测试一次泄漏情况?
每6个月对运行中的设备进行一次检查,并在任何涉及患者通路的维修后进行检查。使用70%异丙醇清洁屏障,并避免丙酮接触聚酰亚胺包覆层。更换部件时,请使用相同部件编号,因为在同一患者通路中混用不同部件可能会导致不对称泄漏。
7。 参考
- IEC 60601-1:2005+AMD1:2012, 医用电气设备——第1部分:基本安全和基本性能的一般要求日内瓦:IEC,2012。
- IEC 60601-2-1:2009, 医用电气设备——第 2-1 部分:1 MeV 至 50 MeV 电子加速器基本安全和基本性能的特殊要求日内瓦:IEC,2009。
- IEC 60384-8, 电子设备用固定电容器——第8部分:陶瓷介质固定电容器,1类日内瓦:IEC,2015。
- IEC 60270, 高压测试技术——局部放电测量日内瓦:IEC,2015。
- RW 埃里克森和 D.马克西莫维奇, 电力电子学基础,第 3 版。Cham:Springer,2020 年。
- Mohan, N.、Undeland, TM 和 Robbins, WP, 电力电子学:变换器、应用和设计,第 3 版。霍博肯,新泽西州:威利出版社,2003 年。
- T. Mizutani, 聚乙烯中的空间电荷测量技术和空间电荷IEEE 电介质与电气绝缘学报,第 1 卷,第 5 期,第 923-933 页,1994 年。https://doi.org/10.1109/94.326659
- 使用低电压测试高压电容器(漏电流),EEVblog 电子社区论坛,https://www.eevblog.com/forum/testgear/using-low-voltage-levels-to-test-hv-capacitors-leakage-current/ 。
- GB/T 6346.1-2024, 电子设备用固定断路器第1部分:总体规范 (电子设备用固定电容器 - 第 1 部分:通用规范)。北京:国家市场监督管理总局,2024。
- 美国 6,760,215, 具有高电压击穿阈值的电容器DF DeVoe(与 Presidio 相关),2004 年授权,https://www.freepatentsonline.com/6760215.html。
- HVC应用工程团队 高压陶瓷电容器 技术资源https://www.hv-caps.com
请提供电压、电容、频率、安装图纸和数量。HVC 将在 48 小时内推荐一款符合 N4700 标准的器件,并提供局部放电筛选数据和 1000 小时寿命报告。
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